Claire Bourneton-Gerlach Feb 18, 2005:

Ich klopfe Dir virtuell auf die Schulter :o)

Non-ProZ.com Feb 18, 2005:

Jetzt ist es perfekt Lit � clous hei�t ganz einfach "Nadelbett" - siehe http://www.reinhardt-testsystem.de/TSKAT.pdf. Die Punkte m�sste ich mir selbst nun geben ;)

Non-ProZ.com Feb 17, 2005:

In-Circuit-Tester Mein franz. Kollege hat es gefunden: In-Circuit-Tester (ein Schaltkreispr�fger�t)
Der In-Circuit-Test (ITC) ist das momentan noch am weitesten verbreitete Verfahren, da man damit im Prinzip alle elektrisch detektierbaren Fehler finden kann. Er wird allerdings mehr und mehr durch Zugriffsschwierigkeiten limitiert, da die Bauteile immer komplexer und die Netze immer enger werden. Boundary Scan hingegen hat keine Zugriffsbeschr�nkungen. Eine Kombination ist dann vorteilhaft, wenn der mechanische Zugriff eingeschr�nkt aber auch nicht gen�gend Boundary Scan-f�hige Bauteile auf der Baugruppe zu finden sind.

Claire Bourneton-Gerlach Feb 17, 2005:

Eva, stell doch die Frage MIT Bild ins DE-DE. Vielleicht erkennt es jemand !

Non-ProZ.com Feb 17, 2005:

Testschnittstelle Ich glaube nicht, dass dies der richtige Ausdruck ist. Ein lit � clous sieht so aus http://www.chez.com/jtag/generalite.htm

Non-ProZ.com Feb 17, 2005:

:) die Sprache der Techniker ist sehr "vielf�ltig"

Claire Bourneton-Gerlach Feb 17, 2005:

C'est l'autobiographie d'un fakir?